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标题: eMCP162/186合金翻盖探针转SD接口测试座 eMCP字库数据恢复 [打印本页]

作者: w49455558 时间: 2020-9-8 19:22
标题: eMCP162/186合金翻盖探针转SD接口测试座 eMCP字库数据恢复
KZT，1、产品用途:编程座、测试座，对EMCP162/186的IC芯片进行测试、读写。测试方法 1.选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内， 2.按方向插进空闲SD接口，连接电脑或者编程器进行相应的测试、读写，3、适用封装:EMMC169/153 引脚间距0.5mm

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